阻抗特性試驗

繼電保護(hù)測試儀阻抗特性試驗單元用于自動測試阻抗型繼電器(包括阻抗繼電器、功率方向繼電器等)的動作邊界，即 Z(φ) 動作邊界特性。

試驗原理

程序主要使用輻射式掃描方式進(jìn)行搜索，輻射式掃描一般用于搜索圓形、四邊形等封閉式的動作邊界(如阻抗繼電器)。

試驗中待測試的掃描邊界點(diǎn)由掃描角區(qū)域和步長決定，此處，掃描角度以平行于R軸為 0°。例:取掃描角區(qū)域為0°到 160°，步長為 40°，則程序自動以0°為起點(diǎn)，以160°為終點(diǎn)，按逆時針方向，每隔40°計算一條掃描線各掃描線的起點(diǎn)均為中心阻抗Z，長度由掃描半徑?jīng)Q定，每條掃描線與整定邊界特性的交叉點(diǎn)即為測試時等待搜索的動作邊界點(diǎn)。

為了加快每個邊界點(diǎn)的搜索過程,各掃描線上的搜索起點(diǎn)應(yīng)盡可能地接近邊界點(diǎn)，為此程序提供了掃描線搜索起點(diǎn)K%的設(shè)置，即邊界點(diǎn)只需在每條掃描線掃描半徑的K%到100%之間進(jìn)行搜索即可。一般地，應(yīng)保證掃描半徑的K%位于動作區(qū)內(nèi)，100%位于動作區(qū)外，即掃描線必須完全覆蓋動作邊界。

如果程序計算過程中發(fā)現(xiàn)某條掃描線的搜索起點(diǎn)或終點(diǎn)的電壓、電流越限則自動忽略該掃描線。

測試步驟：

設(shè)置阻抗參數(shù)

Z：極坐標(biāo)形式的幅值；

φ：極坐標(biāo)形式的角度；

R：直角坐標(biāo)形式的電阻；

X：直角坐標(biāo)形式的電抗；

Kr、Kx:用于計算零序補(bǔ)償系數(shù)(Kr /Kx)，如果定值所給的參數(shù)形式與此不同，可按如下公式進(jìn)行轉(zhuǎn)換：

Kr=(RO/R1-1)/3

Kx=(X0 /X1 -1)/3

如果定值單中不是給出電阻和電抗的值，而是正序和零序阻抗，以及正序和零序靈敏角，則應(yīng)將它們轉(zhuǎn)換成電阻和電抗，再代入上述公式進(jìn)行計算；對某些保護(hù)以 Ko、φ方式計算的，如果φ(Z1)=φ(Z0)，即PSI=PS0，則Ko為一實(shí)數(shù)，此時需設(shè)置Kr=Kx=Ko。Ux 為第四路電壓通道，共有四種輸出模式：

+3Uo 三相交流電壓的矢量和；
-3Uo 三相交流電壓矢量和的反相輸出；

+√3X3Uo√3 倍的三相交流電壓的矢量和；

-√3X3Uo√3 倍的三相交流電壓矢量和的反相輸出；

故障電流:短路故障時，流經(jīng)保護(hù)安裝處的故障相電流。